Keithley 參數化測試系統

S530 功能

• 靈活的探測器接口選項，包括測試頭，支持原有吉時(shí)利和 Keysight 裝置
• 行業(yè)標準的 KTE 軟件環(huán)境
• 觸摸一次探頭即可完成高壓和低壓參數的測試
• 通過(guò)全新系統參考單元 (SRU) 進(jìn)行全自動(dòng)系統級校準符合質(zhì)量標準
• KTE 7 中的運行狀況檢查軟件工具限度地延長(cháng)系統正常運行時(shí)間和提高數據完整性
• 內置的瞬態(tài)過(guò)電壓和/或過(guò)電流事件保護可地減少代價(jià)高昂的系統停機或對晶片造成損壞
• 符合 ISO-17025 校準要求并支持 IATF-16949 合規性
• 提供 SECS/GEM 與 300 毫米晶圓廠(chǎng)的集成

S540 功能

• 在單次探頭觸摸中自動(dòng)在多達 48 個(gè)引腳上執行所有晶片級參數測試，包括高電壓擊穿、電容和低電壓測量，而無(wú)需更改電纜或探頭卡基礎設施
• 在達 3kV 的條件下執行晶體管電容測量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而無(wú)需手動(dòng)配置測試引腳
• 在高速、多引腳、全自動(dòng)測試環(huán)境中實(shí)現低電平測量性能
• 基于 Linux 的 Keithley 測試環(huán)境 (KTE) 系統軟件支持輕松進(jìn)行測試開(kāi)發(fā)和快速執行
• 非常適合于過(guò)程集成、過(guò)程控制監控和生產(chǎn)芯片分類(lèi)中的全自動(dòng)或半自動(dòng)應用
• 通過(guò)減少測試時(shí)間、測試設置時(shí)間和占地面積，降低擁有成本，同時(shí)實(shí)現實(shí)驗室級測量性能

S500 功能

• 全量程源測量單元 (SMU) 儀器技術(shù)規格，包括 subfemtoamp 測量，確保在幾乎任何設備上都能執行廣泛的測量。
• 適用于內存檢定、電荷泵、單脈沖 PIV（電荷陷阱分析）和 PIV 掃描（自加熱回避）的脈沖生成和超快 I-V。
• 利用支持 Keithley 系統的可擴展 SMU 儀器，提供低或高通道數系統，包括并行測試。
• 適用于測試功率 MOSFET 和顯示驅動(dòng)器等測試器件的高電壓、電流和功率源測量?jì)x器。
• 開(kāi)關(guān)、探頭卡和布線(xiàn)保證系統適用于您的 DUT。